Источник питания Keithley 2200-60-2

Источник питания Keithley 2200-60-2 представляет собой программируемое устройство, предназначенное для подачи напряжения до 60 В и тока до 2,5 А с высокой точностью. Это делает его идеальным для использования в лабораторных и тестовых системах, где важны стабильные и точные параметры питания.

Устройство оснащено выходами как на передней, так и на задней панели, что позволяет гибко использовать его в различных условиях работы, будь то ручное тестирование или интеграция в автоматизированные тестовые системы.

Поддержка интерфейсов USB и GPIB позволяет легко подключать источник питания к компьютерам или автоматическим системам управления, обеспечивая удалённое программирование и контроль параметров. Это особенно важно для тестов, требующих продолжительного времени работы или точной повторяемости.

Keithley 2200-60-2 обладает высокой точностью уставки по току несрабатывания и эхосчитывания, с погрешностью всего 0,05 %, что гарантирует надёжные результаты даже в сложных условиях. Разрешение по току до 0,1 мА обеспечивает возможность точного мониторинга и управления, что особенно важно при работе с чувствительными электронными компонентами.

Двухстрочный дисплей на передней панели позволяет одновременно отслеживать как напряжение, так и ток, что упрощает процесс мониторинга работы устройства и регулировки параметров в реальном времени. Дополнительной функцией является режим встроенного списка, который позволяет пользователям программировать последовательность изменений напряжения и тока, что особенно полезно для многоэтапных тестов.

Кроме того, устройство оснащено двумя каналами цифрового ввода-вывода, что даёт возможность интеграции с другими системами или приборами для более сложных измерений. Программируемая защита от перенапряжения предотвращает повреждение тестируемых устройств в случае скачков напряжения, обеспечивая безопасность и надёжность работы. Для защиты от случайных изменений настроек в ходе работы прибор оснащён функцией блокировки передней панели, что особенно важно при выполнении долгосрочных или критически важных тестов, где требуется стабильность параметров.